Escape rate in ac SQUID on Josephson junction based on single- and multi-band superconductors in thermal activation regime

Автор(и)

  • A. Aydin Department of Computer Engineering of Ankara University, Ankara 06100, Turkey
  • I. N. Askerzade Department of Computer Engineering of Ankara University, Ankara 06100, Turkey
  • R. Askerbeyli Depatment of Business Administration, Karabuk University, Karabuk, Turkey

DOI (Low Temperature Physics):


https://doi.org/10.1063/10.0020591

Ключові слова:

Josephson junction, critical current, escape rate, thermal activation regime

Анотація

Частота розпадів (переходів з надпровідного S-стану в нестабільний резистивний R-стан) у НКВІД змінного струму з джозефсонівським переходом на основі одно- та багатозонних надпровідників досліджується з урахуванням ефектів фрустрації в багатозонному надпровідному стані. Використовуючи підхід ефективного критичного струму, показано, що швидкість виходу в режимі термічної активації може проявляти якісні особливості, спричинені ефектами фрустрації у дво- та тризонних надпровідниках.

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Downloads

Опубліковано

2023-07-26

Як цитувати

(1)
A. Aydin, I. N. Askerzade, and R. Askerbeyli, Escape rate in ac SQUID on Josephson junction based on single- and multi-band superconductors in thermal activation regime , Low Temp. Phys. 49, (2023) [Fiz. Nyzk. Temp. 49, 1107–1111, (2023)] DOI: https://doi.org/10.1063/10.0020591.

Номер

Том 49 № 9 (2023)

Розділ

Надпровідність, зокрема високотемпературна

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають