Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов - ЧЕНАКИН, С. П.; ЧЕРЕПИН, В. Т.; НИКИТИН, Б. Г.; КЛИМЕНКО, Г. А.; РЮДЕНАУЭР, Ф. Г.; ШТАЙГЕР, В. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 1989)