Размерный дилатометрический эффект в тонких пленках фуллерита C60 - Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П.; Горбенко, Н. И. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 1997)
Методом дифракции быстрых электронов на просвет определено изменение периода решетки (DELTA a)/a монокристаллических пленок фуллерита C60 толщиной менее 10 нм. В интервале температур от комнатной до азотной величина (DELTA a)/a увеличивается с уменьшением толщины пленок. По этим данным определены коэффициенты линейного расширения пленок alphaf и поверхностного атомного слоя alphas. Величина alphas вдоль плоскости (111) равна ( 55 +- 15 )10-6K -1.