Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности - Прохоров, В. Г. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 1998)
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa2Cu3O7-x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.