Низкотемпературная люминесценция тонких пленок C60 различной структуры - Авдеенко, А. А.; Еременко, В. В.; Зиновьев, П. В.; Силаева, Н. Б.; Тиунов, Ю. А.; Горбенко, Н. И.; Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 1999)
Представлены результаты исследований низкотемпературной (5 К) фотолюминесценции тонких пленок фуллерита C60 различной структуры, полученных испарением в вакууме при температурах подложки (монокристалл NaCl в интервале 290-400 К.) В зависимости от условий нанесения пленок их структура, которая контролировалась электронографическим методом, изменялась от разориентированной до ориентированной с различными средними размерами микрокристаллов. Обнаруженное влияние структуры пленок на полосу спектра фотолюминесценции фуллерита, связанную с излучением структурных дефектов (Х-ловушек), объясняется особенностями транспорта и захвата когерентных синглетных экситонов в микрокристаллах различных размеров.