Структура и параметр решетки тонких пленок C60 - Пугачев, А. Т.; Чуракова, Н. П.; Горбенко, Н. И.; Саадли, Х.; Солодовник, А. А. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 1999)
В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C60, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температуры конденсации структура пленок изменялась от эпитаксиальной с ориентацией (111) до неориентированной предельно нанодисперсной с размером зерна 4-5нм. Определены кристаллографические условия сопряжения поверхности (100) NaCl и эпитаксиальных пленок фуллерита C60, установлен четырехпозиционный характер их структуры. Температура перехода ГЦК-ПК и наблюдаемая при этом величина скачка параметра решетки пленок близки к аналогичным данным массивного фуллерита. Из температурной зависимости параметра решетки в интервале 100-260К определен средний коэффициент линейного расширения пленок a . Увеличение a при малых толщинах является размерным эффектом, который обусловлен существенным влиянием поверхности. По данным проведенных исследований предложен механизм формирования структуры конденсированных пленок фуллерита C60.