Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников: Новые методы низкотемпературного эксперимента - Ростами, Х. Р. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2001)
Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании известного выражения, определяющего Jc керамик, связана именно с низким уровнем плотности Btr захваченного магнитного потока (ЗМП) в монокристаллах по сравнению с керамиками. Предложена методика определения Jc монокристаллических и керамических образцов по измерениям пространственного распределения Btr, создаваемого биновскими экранирующими сверхтоками при переходе всего объема образца в критическое состояние. Получена формула для определения Jc монокристаллических и керамических СП образцов в форме многоугольной и цилиндрической пластин. Для повышения точности оценки Jc вместо Btrmax(0) использована разность B0*-Bc1 (B0* - поле, индуцирующее на геометрической оси образца Btrmax(0); Bc1 - первое критическое магнитное поле образца). Оценены Jc и силы пиннинга YВСО и ВSСCО монокристаллических образцов. Определено, что механизмы ЗМП в этих слоистых структурах отличаются.