Соизмеримые вихревые решетки в тонких пленках V и сверхпроводящих сверхрешетках V/Si: Статьи, посвященные столетию со дня рождения Л. В. Шубникова - Фогель, Н. Я.; Бухштаб, Е. И.; Черкасова, В. Г.; Юзефович, О. И.; Михайлов, М. Ю.; Стеценко, А. Н. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2001)
Исследованы особенности шубниковской фазы в тонких пленках сверхпроводников II рода в случае, когда магнитное поле параллельно поверхности пленки. Измерения немонотонных зависимостей критического тока Ic от магнитного поля H|| позволяют выявить соизмеримые вихревые решетки с разным количеством вихревых цепочек в пленке. Установлено, что на однородных пленках наблюдение эффекта соизмеримости параметра вихревой решетки с толщиной пленки возможно только при идеальном состоянии границ пленки, допускающем образование бесконечной решетки вихрей и их изображений. Нарушение гладкости и плоскопараллельности двух поверхностей пленки приводит к исчезновению осцилляций Ic и резкому уменьшению критического тока. На пленках впервые обнаружен lock-in переход, обусловленный влиянием поверхностного барьера. Установлено, что в тонкопленочных слоистых образцах одновременно проявляется эффект соизмеримости параметра вихревой решетки с периодом сверхструктуры и с полной толщиной образца. Рассмотрена фазовая диаграмма Н-Т однородной пленки в параллельном магнитном поле.