Микроконтактная спектроскопия релаксационной динамики двухуровневых систем при структурной перестройке металлических стекол Ni-Nb: Электpонные свойства металлов и сплавов - Балкашин, О.П.; Янсон, И.К.; Халбриттер, А.; Михали, Г. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2002)
В диапазоне частот 103-5&#215109 Гц исследованы микроконтактные спектры (зависимости вторых производных вольт-амперных характеристик от энергии) биметаллических контактов аморфного сплава Ni59Nb41 с серебром. При малых энергиях в микроконтактах из закаленного сплава спектральная особенность, условленная рассеянием электронов проводимости на двухуровневых туннельных системах (ДУС), четко наблюдается в СВЧ диапазоне. Это подтверждает полученный нами ранее для гомоконтактов (O.P.Balkashin et al., Solid StateCommun. 118, 623 (2001)) вывод о наличии в металлических стеклах быстро релаксирующих ДУС с характерной частотой релаксации Г > 1011 Гц. После высокотемпературного отжига аморфного сплава (Т = 800°С в течение 1 ч) и его кристаллизации интенсивность спектральной особенности в области малых напряжений на контакте существенно возросла. Обнаружена резкая частотная дисперсия амплитуды этой особенности вплоть до полного ее исчезновения при измерениях на частотах до 5×109 Гц. Полученные данные свидетельствуют об образовании в отожженных аморфных сплавах Ni-Nb качественно новых медленно релаксирующих ДУС. Оценка характерной частоты релаксации этих ДУС по частотной дисперсии измеряемого сигнала дает значение Г/2p » 0,7×109 Гц. Обсуждаются возможные причины образования двухуровневых систем в микроконтактах.