Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона - Еременко, В.В.; Коваленко, С.И.; Солнышкин, Д.Д. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2003)
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов < u 2 > 1/2 в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N̅ сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×103 до 2×104 атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров < u 2 > 1/2 увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N̅≥4×103 атомов/кластер увеличение < u 2 > 1/2 при уменьшении N̅ обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N̅≤4×103 атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту < u 2 > 1/2.