Флуктуационная проводимость и критические токи в пленках Y-Ba-Cu-O - Соловьев, А.Л.; Дмитриев, В.М.; Светлов, В.Н.; Степанов, В.Б. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2003)
Впервые проведен сравнительный анализ результатов, полученных при измерении флуктуационнойпроводимости (ФП) и плотности критического тока jc(T) в пленках YBa2Cu3O7-y, содержащих различное количество дефектов. Обнаружена взаимосвязь между величиной и температурной зависимостью ФП и величинами и температурными зависимостями критического тока и удельного сопротивления образцов. Из измерений ФП следует, что изменение этих зависимостей прямо связано с изменением числа дефектов, а следовательно, и центров пиннингав исследуемых пленках. Показано, что в пленках, практически не содержащих дефекты, зависимость jc(T) полностью следует модели, определяющей зависимость jc(T) в ВТСП с малоугловыми границами раздела кристаллических блоков. С другой стороны, если в образце формируется специфическая структура дефектов, возникающая при определенных условиях в с-ориентированных эпитаксиальных ВТСП пленках, то наблюдается резкое возрастание величины jc и наклона зависимостей jc(T).