Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TlGa1-xFexSe2 - Гасанов, Н.З.; Керимова, Э.М.; Гасанов, А.И.; Асадов, Ю.Г. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2006)
Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе2-TlFeSe2. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10-120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TlGa1-xFexSе2 (x = 0; 0,005; 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения.