O микроволновом отклике эпитаксиальной пленки YBa2Cu3O7-s при низких температурах с применением новой техники измерений - Баранник, А.А.; Буняев, С.А.; Черпак, Н.Т. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2008)
Исследована температурная зависимость поверхностного сопротивления RS(T)высококачественнойэпитаксиальной пленки YBa2Cu3O7-s монокристаллическую подложкуMgO. Измерения проведены в интервале температур от Tc до 2 К с применением новой техники - сиспользованием сапфирового полусферического резонатора с волнами шепчущей галереи в 8-миллиметровом диапазоне волн (Ka-band). Развитая техника измерений позволяет при низких температурах достичь высокой чувствительности измерений RS(T) (до 10 мкОм). Получена линейная зависимость RS(T) винтервале температур 2-15К, которая согласуется с представлениями о d-волновой симметрии параметрапорядка. Найденное в работе значение остаточного сопротивления Rres=RS(T→0) показывает, что пленка по микроволновым свойствам близка к монокристаллам и Rres, по-видимому, определяется внутренними свойствами сверхпроводника. Из анализа опубликованных данных следует, что Rres (w) ~ w3/2для монокристаллов и пленок YBa2Cu3O7-s, при этом природа остаточного микроволнового сопротивления остается невыясненной.