Some aspects of the resistive-to-normal state transition caused by direct and microwave currents in superconducting thin films with phase slip lines - Turutanov, O. G.; Sivakov, A. G.; Leha, A. A.; Pokhila, A. S.; Kolinko, A. E.; Grajcar, M. (ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, 2024)
На основі аналізу вольт-амперних характеристик та візуалізації резистивного стану тонкоплівкових смужок олова за допомогою низькотемпературної лазерної скануючої мікроскопії (НТЛСМ) досліджено процес руйнування надпровідності струмом та мікрохвильовим опроміненням з утворенням і просторовою перебудовою ліній проковзування фази параметра порядку та їх перетворення в дискретні локалізовані нормальні області. Розглянуто перспективи НТЛСМ з точки зору дослідження високочастотних властивостей надпровідних структур і просторових характеристик у докритичному стані для інструментальних застосувань.