Н.Б. Брандт and Е.П. Скипетров, Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления: , Low Temp. Phys. 22, (1996) [Fiz. Nizk. Temp. 22, 870-891, (1996)].