ЧЕНАКИН, С. П., В. Т. ЧЕРЕПИН, Б. Г. НИКИТИН, Г. А. КЛИМЕНКО, Ф. Г. РЮДЕНАУЭР, і В. ШТАЙГЕР. 1989. «Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР 15 (9). Харків, Україна:920-25. http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f15-0920r.