Veremeichyk, T. V., O. V. Makarenko, V. B. Shevchenko, S. Y. Ivanchuk, і A. V. Rybalochka. 2024. «Investigation of Multilayer Samples of Porous Silicon With Periodic Structure by Spectroscopic Ellipsometry». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР 51 (2). Харків, Україна:261–266. https://doi.org/10.1063/10.0035408.