ЧЕНАКИН, С. П., ЧЕРЕПИН, В. Т., НИКИТИН, Б. Г., КЛИМЕНКО, Г. А., РЮДЕНАУЭР, Ф. Г. і ШТАЙГЕР, В. (1989) «Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов», ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. Харків, Україна, 15(9), с. 920–925. доступний у: http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f15-0920r (дата звернення: 10 Листопад 2025).