Ivanov, Z., Fogel, N., Yuzephovich, O., Stepantsov, E. і Tzalenchuk, A. (2004) «Depairing critical currents and self-magnetic field effects in submicron YBa₂Cu₃O_7–d microbridges and bicrystal junctions», ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. Харків, Україна, 30(3), с. 276–281. doi: 10.1063/1.1645178.