Veremeichyk, T. V. ., Makarenko, O. V. ., Shevchenko, V. B. ., Ivanchuk, S. Y. . і Rybalochka, A. V. . (2024) «Investigation of multilayer samples of porous silicon with periodic structure by spectroscopic ellipsometry », ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР. Харків, Україна, 51(2), с. 261–266. doi: 10.1063/10.0035408.