В. Б. Ефимов і Л. П. Межов-Деглин, «Захват зарядов дефектами, возникающими при охлаждении кристаллов He⁴ ниже Т_пл/2», Fiz. Nizk. Temp., вип. 8, вип. 5, с. 466–476, Трав 1982.