[1]
И. М. Дмитренко, П. А. Гриб, А. Г. Сиваков, О. Г. Турутанов, і А. П. Журавель, «Исследование пространственного распределения критических токов в пленках ВТСП методом лазерной сканирующей микроскопии», Fiz. Nizk. Temp., вип. 19, вип. 4, с. 369–374, Квіт 1993.