Z. Ivanov, N. Fogel, O. Yuzephovich, E. Stepantsov, і A. Tzalenchuk, «Depairing critical currents and self-magnetic field effects in submicron YBa₂Cu₃O_7–d microbridges and bicrystal junctions», Fiz. Nizk. Temp., вип. 30, вип. 3, с. 276–281, Січ 2004.