Л. Межов-Деглин і С. Мухин, «Осцилляции перегибов на дислокационных линиях в кристаллах и низкотемпературные транспортные аномалии как "паспорт" свежевведенных дефектов: Теория электронных свойств», Fiz. Nizk. Temp., вип. 37, вип. 9-10, с. 1011–1018, Сер 2011.