С. В. Верховский, В. И. Окулов, К. А. Окулова, і В. Я. Раевский, «Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта», Fiz. Nizk. Temp., вип. 18, вип. 2, с. 164–167, Лют 1992.