Ivanov, Z., N. Fogel, O. Yuzephovich, E. Stepantsov, і A. Tzalenchuk. «Depairing Critical Currents and Self-Magnetic Field Effects in Submicron YBa₂Cu₃O_7–d Microbridges and Bicrystal Junctions». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, вип. 30, вип. 3, Січень 2004, с. 276-81, doi:10.1063/1.1645178.