Верховский, С. В., В. И. Окулов, К. А. Окулова, і В. Я. Раевский. «Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, вип. 18, вип. 2, Лютий 1992, с. 164-7, http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f18-0164r.