Veremeichyk, T. V. ., O. V. . Makarenko, V. B. . Shevchenko, S. Y. . Ivanchuk, і A. V. . Rybalochka. «Investigation of Multilayer Samples of Porous Silicon With Periodic Structure by Spectroscopic Ellipsometry». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР, вип. 51, вип. 2, Грудень 2024, с. 261–266, doi:10.1063/10.0035408.