Veremeichyk, T. V., O. V. Makarenko, V. B. Shevchenko, S. Y. Ivanchuk, і A. V. Rybalochka. «Investigation of Multilayer Samples of Porous Silicon With Periodic Structure by Spectroscopic Ellipsometry». ФІЗИКА НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР 51, no. 2 (Грудень 23, 2024): 261–266. дата звернення Листопад 11, 2025. http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/9404.