Ефимов ВБ, Межов-Деглин ЛП. Захват зарядов дефектами, возникающими при охлаждении кристаллов He⁴ ниже Т_пл/2. Fiz. Nizk. Temp. [інтернет]. 10, Травень 1982 [цит. за 18, Квітень 2026];8(5):466-7. доступний у: http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f08-0466r