ЧЕНАКИН СП, ЧЕРЕПИН ВТ, НИКИТИН БГ, КЛИМЕНКО ГА, РЮДЕНАУЭР ФГ, ШТАЙГЕР В. Двумерный элементный анализ поверхности сверхпроводника методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Fiz. Nizk. Temp. [інтернет]. 10, Вересень 1989 [цит. за 02, Березень 2026];15(9):920-5. доступний у: http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f15-0920r