Межов-Деглин Л, Мухин С. Осцилляции перегибов на дислокационных линиях в кристаллах и низкотемпературные транспортные аномалии как "паспорт" свежевведенных дефектов: Теория электронных свойств. Fiz. Nizk. Temp. [інтернет]. 22, Серпень 2011 [цит. за 10, Листопад 2025];37(9-10):1011-8. доступний у: http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f37-1011r