Верховский СВ, Окулов ВИ, Окулова КА, Раевский ВЯ. Температурная зависимость параметров "собственной" линии ЯМР в алюминии в условиях сильного скин-эффекта. Fiz. Nizk. Temp. [інтернет]. 10, Лютий 1992 [цит. за 10, Листопад 2025];18(2):164-7. доступний у: http://80.92.230.95/index.php/fnt/article/view/f18-0164r