Время релаксации, динамический, релаксированный и нерелаксированный модули упругости в ZnSe:Cr, исследованные с помощью ультразвуковых волн
Структура и свойства полупроводников с переходными элементами
DOI (Low Temperature Physics):
https://doi.org/10.1063/1.2719955Ключові слова:
модули упругости, ультразвук, полупроводники, примеси.Анотація
В кристалле ZnSe, допированном ионами Cr2+, в интервале частот 32-158 МГц исследованы температурные зависимости фазовой скорости и поглощения ультразвука, распространяющегося вдоль оси [110]. Установлено, что пик поглощения и аномалии фазовой скорости, обнаруженные в интервале температур 10-20 К, имеют релаксационную природу. Восстановлены температурные зависимости времени релаксации, релаксированного (изотермического) и нерелаксированного (адиабатического) модулей упругости Cl=1/2(C11+C12+2C44). На частоте 32 МГц обнаружены осцилляции амплитуды и фазы сигнала. Предложена интерпретация этого явления.Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.

Downloads
Опубліковано
2007-02-05
Як цитувати
(1)
В.В. Гудков, А.Т. Лончаков, В.И. Соколов, and И.В. Жевстовских, Время релаксации, динамический, релаксированный и нерелаксированный модули упругости в ZnSe:Cr, исследованные с помощью ультразвуковых волн: Структура и свойства полупроводников с переходными элементами, Low Temp. Phys. 33, (2007) [Fiz. Nizk. Temp. 33, 269-275, (2007)] DOI: https://doi.org/10.1063/1.2719955.
Номер
Розділ
Статті